要準確測試含有微米和納米這種“跨界”樣品的粒度分布，是一件困難的事：一是需要有一臺既能測微米、又能側納米的粒度儀，這一點就不容易滿足；二是要對樣品進行充分分散，包括選擇合適的介質、合適的分散劑和適當的外力分散方法；三是要對測試結果進行合理性驗證，這一點及其重要。最近，百特實驗室用Bettersize2600激光粒度儀測了一個碳化硅樣品，粒度分布圖如下：

開始，我們對這個結果產生了疑惑：以往的碳化硅樣品的粒度分布圖形不都是很漂亮的嗎？為什么這個碳化硅會是這樣的峰形呢？前面的峰到底有沒有呢？測的數據對嗎？準嗎？帶著這些疑惑，我們對這個碳化硅樣品進行處理，通過配置一定濃度的懸浮液（圖2），靜置24小時后（圖3），來看到底有沒有納米顆粒。

我們發現，靜置24小時后的懸浮液有明顯的分層現象，但上清液呈乳白透明狀，說明上清液中還有小顆粒。我們通過Stokes沉降定律計算，這些乳白透明狀的顆粒最大直徑不大于1μm。我們取上清液，用Bettersize2600激光粒度儀進行粒度分布測試，結果是D10=41nm，D50=72nm，D90=371nm，Dmax=900nm。說明這個碳化硅樣品是納米和微米顆粒的混合物。初步判斷圖1的結果是正確的。

為了更進一步考察，我們對這個碳化硅樣品用場發射掃描電鏡進行拍照，看看是否存在納米顆粒。從不同倍數的電鏡照片看，最大顆粒有10μm左右，100納米及以下的顆粒（紅圈內）也確確實實存在的，而且含量非常多。證明Bettersize2600激光粒度儀的測試結果（圖1）是正確的。

從這個樣品的測試和驗證過程證明，Bettersize2600激光粒度儀能準確測量納米和微米混合樣品的粒度分布。從Bettersize2600激光粒度儀的設計來看也具備這個能力，因為它采用了正反傅里葉結合光路，能準確探測前向、側向和后向散射光，實現了全角度測量，從而保證了細顆粒端的測量精度。